Việc kiểm tra wafer là quá trình tiến hành đo lường từng hạt chip trên wafer bằng cách sử dụng các que thăm (probe) mỏng như sợi tóctrang cá độ bóng đá, tiếp xúc với các điểm nối (pad) trên bề mặt của hạt chip để kiểm tra đặc tính điện học. Những hạt chip không đạt tiêu chuẩn sẽ được đánh dấu để phân biệt, sau đó khi wafer được cắt ra thành từng phần độc lập dựa theo từng hạt chip...